Name: UHH Detector Lab --- DPG2011 Rehearsals
Start: 2011-03-21T09:00:00+01:00
End: 2011-03-21T18:00:00+01:00
Location: Geb. 68

UHH Detector Lab --- DPG2011 Rehearsals

Monday 21 March 2011 - 09:00

Monday 21 March 2011
09:00 Untersuchungen zur Stromgenerierung eines strahleninduzierten Defektes in Silizium - Coralie Neubüsser
Untersuchungen zur Stromgenerierung eines strahleninduzierten Defektes in Silizium
- Coralie Neubüsser
09:00 - 09:45
Room: 125
09:45 Aufbau eines Teststandes (ALIBAVA) für Siliziumstreifendetektoren - Victor Danescu
Aufbau eines Teststandes (ALIBAVA) für Siliziumstreifendetektoren
- Victor Danescu
09:45 - 10:30
Room: 125
10:30 Break
Break
10:30 - 10:45
Room: 125
10:45 Verständnis von Dotierungsprofilen und Defektkonzentrationen im Zusammenspiel von IV/CV-, TCT-, DLTS- und TSC-Messungen - Joachim Erfle
Verständnis von Dotierungsprofilen und Defektkonzentrationen im Zusammenspiel von IV/CV-, TCT-, DLTS- und TSC-Messungen
- Joachim Erfle
10:45 - 11:30
Room: 125
11:30 Ladungsverluste in unbestrahlten Streifensensoren - Thomas Pöhlsen
Ladungsverluste in unbestrahlten Streifensensoren
- Thomas Pöhlsen
11:30 - 12:15
Room: 125
12:15 Lunch
Lunch
12:15 - 13:30
Room: 125
13:30 Auswirkungen von Kristallgitterschäden auf die elektrischen Eigenschaften von Test- Dioden für den Ausbau des CMS-Spurdetektors - Alexandra Junkes
Auswirkungen von Kristallgitterschäden auf die elektrischen Eigenschaften von Test- Dioden für den Ausbau des CMS-Spurdetektors
- Alexandra Junkes
13:30 - 14:15
Room: 125
14:15 Properties of the X‐ray Induced Radiation Damage at the Si‐SiO2 Interface - Jiaguo Zhang
Properties of the X‐ray Induced Radiation Damage at the Si‐SiO2 Interface
- Jiaguo Zhang
14:15 - 15:00
Room: 125
15:00 Modellierung und Simulation strahlengeschädigter Silizium- Sensoren - Jörn Schwandt
Modellierung und Simulation strahlengeschädigter Silizium- Sensoren
- Jörn Schwandt
15:00 - 15:45
Room: 125

Choose timezone