UHH Detector Lab --- DPG2011 Rehearsals

Europe/Berlin
125 (Geb. 68)

125

Geb. 68

Participants
  • Alexandra Junkes
  • Christian Scharf
  • Coralie Neubüser
  • Jiaguo Zhang
  • Joachim Erfle
  • Joern Schwandt
  • Thomas Poehlsen
  • Victor Danescu
    • 09:00 09:45
      Untersuchungen zur Stromgenerierung eines strahleninduzierten Defektes in Silizium 45m
      Speaker: Coralie Neubüsser
      Slides
    • 09:45 10:30
      Aufbau eines Teststandes (ALIBAVA) für Siliziumstreifendetektoren 45m
      Speaker: Victor Danescu
      Slides
    • 10:30 10:45
      Break 15m
    • 10:45 11:30
      Verständnis von Dotierungsprofilen und Defektkonzentrationen im Zusammenspiel von IV/CV-, TCT-, DLTS- und TSC-Messungen 45m
      Speaker: Joachim Erfle
      Slides
    • 11:30 12:15
      Ladungsverluste in unbestrahlten Streifensensoren 45m
      Speaker: Thomas Pöhlsen
      Slides
    • 12:15 13:30
      Lunch 1h 15m
    • 13:30 14:15
      Auswirkungen von Kristallgitterschäden auf die elektrischen Eigenschaften von Test- Dioden für den Ausbau des CMS-Spurdetektors 45m
      Speaker: Alexandra Junkes
      Slides
    • 14:15 15:00
      Properties of the X‐ray Induced Radiation Damage at the Si‐SiO2 Interface 45m
      Speaker: Jiaguo Zhang
      Slides
    • 15:00 15:45
      Modellierung und Simulation strahlengeschädigter Silizium- Sensoren 45m
      Speaker: Jörn Schwandt
      Slides